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          Ceyear思儀 3674系列網絡分析儀3674B、3674C、3674D、3674E、3674F 、3674G 、3674H、3674K、3674L、3674N、3674P/PA

          產品分類:網絡分析儀
          產品簡介: Ceyear 3674系列矢量網絡分析儀是技術創新的之作,可以輕松應對半導體芯片測試、材料測試、天線測試、高速線纜測試、微波部組件測試等帶來的嚴峻挑戰。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相...

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          產品概述

          Ceyear思儀新產品 3674系列矢量網絡分析儀3674B、3674C、3674D、3674E、3674F 、3674G 、3674H、3674K、3674L、3674N、3674P/PA


          主機型號

          3674B          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~9GHz

          3674C          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~14GHz

          3674D          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~20GHz

          3674E          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~26.5GHz

          3674F          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~32GHz

          3674G          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~44GHz

          3674H          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~50GHz

          3674K          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~53GHz

          3674L          矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~67GHz

          3674N         矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~90GHz

          3674P/PA   矢量網絡分析儀     500Hz/10MHz~110GHz


          選件型號

          3674-006     英文選件                                    配置英文前后面板和英文操作系統。

          3674-009     二端口擴頻控制機                     用于矢量網絡分析儀頻率擴展,實現二端口矢量網絡分析儀擴展功能。必選S20, 支持3674E/F/G/H/K/L

          3674-010     四端口擴頻控制機                     用于矢量網絡分析儀頻率擴展,實現四端口矢量網絡分析儀擴展功能。必選S20, 支持3674E/F/G/H/K/L

          3674-011     110GHz同軸擴展模塊               用于矢量網絡分析儀頻率擴展,實現10MHz~110GHz同軸S參數測量。必選009/010+S20, 支持3674E/F/G/H/K/L

          3674-060     外置操作面板選件                     用于擴展前面板,實現遠距離操控,增加按鍵數量。

          3674-061     延伸工作臺選件                        用于測試時的桌面延伸,長×寬=500mm×350mm。

          3674-062     上機柜選件                               機柜安裝結構件。

          3674X-003   噪聲系數測量選件                    用于S參數、噪聲系數和噪聲參數的測量。注:二端口電子校準件和噪聲源需要單獨購置。必選201/401+204/404 支持3674E/F/G/H

          3674X-008   脈沖測量選件                           用于脈沖狀態下S參數測量,端口1、3輸出脈沖調制信號。

          3674X-018   多端口擴展裝置                        用于擴展矢量網絡分析儀為16端口。必選400+404, 支持3674E/F/G/H/K/L

          3674X-023   混頻器/變頻器矢量測量選件     用于混頻器矢量參數測量。必選204/404+S20

          3674X-200    二端口標準型                           二端口S參數測量。

          3674X-201    二端口程控步進衰減器選件      配置源通路2個程控步進衰減器,接收機通路2個程控步進衰減器。必選204

          3674X-203    二端口500Hz低頻擴展選件      頻率范圍下限可擴展至500Hz。必選204 與205互斥

          3674X-204    二端口面板跳線                        對測試裝置進行擴展。

          3674X-205    二端口偏置T選件                      用于端口輸出直流偏置電壓。必選201+204 與203互斥

          3674X-400    四端口標準型                            雙源激勵四端口矢量網絡分析儀配置。

          3674X-401    四端口程控步進衰減器選件       配置源通路4個程控步進衰減器,接收機通路4個程控步進衰減器。必選400+404

          3674X-402    有源互調失真測量選件              用于有源互調失真信號測量。必選400+404+S20

          3674X-403    四端口500Hz低頻擴展選件       頻率范圍下限可擴展至500Hz。必選400+404 與405互斥

          3674X-404    四端口面板跳線                         對測試裝置進行擴展。必選400

          3674X-405    四端口偏置T選件                       用于端口輸出直流偏置電壓。必選400+401+404 與403互斥

          3674X-S05    S參數信號完整性分析選件         用于分析系統的頻域、時域TDR和串擾等信號完整性特性,可自動將圖形曲線轉換成測試報告。


          軟件型號

          3674X-S07     AFR自動夾具移除選件     用于單端及平衡器件測量夾具自動測試及移除。

          3674X-S10     時域測量選件                   用于時域測量,可確定器件、夾具或電纜中不連續位置并進行分析。

          3674X-S11     時域分析選件            用于TDR時域阻抗測試、眼圖分析等。

          3674X-S16     真差分測量選件               用于真實差模、共模激勵平衡參數測量。必選400+404+S28

          3674X-S18     快速連續波掃描               使用FIFO緩沖法,即時讀取數據。

          3674X-S20     頻偏測量選件                   用于頻率偏移測量。必選204/404

          3674X-S22     混頻器/變頻器標量測量選件     用于混頻器標量參數測量。必選S20

          3674X-S24     嵌入式本振變頻器測量選件       用于內嵌本振變頻器測量。必選204/404+S20+S22/023

          3674X-S26     增益壓縮二維掃描測量選件       用于放大器等增益壓縮二維掃描測量。

          3674X-S28     相位掃描選件                            用于相位掃描測量。必選400

          3674X-S30     頻譜分析選件                            用于提供多通道頻譜測試功能。

          3674X-S31     THD測量選件                            用于差分放大器總諧波失真測試功能。必選400+S28


          標配附件

          電源線組件

          USB鍵盤/鼠標

          用戶手冊

          產品合格證

          鋁合金箱


          產品綜述

          Ceyear 3674系列矢量網絡分析儀是技術創新的之作,可以輕松應對半導體芯片測試、材料測試、天線測試、高速線纜測試、微波部組件測試等帶來的嚴峻挑戰。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成,只需一次連接即可完成多種測量任務。創新的人機交互設計可幫助您快速便捷地完成所需的測量設置,超大觸摸屏為您帶來靈活、高效的操作體驗。


          功能特點

          脈沖S參數測量

          內置4路脈沖發生器,用于內部源調制、中頻門控制,并從后面板輸出。每路脈沖發生器的脈寬和延時獨立可設。


          源調制來源包括后面板輸入、內部脈沖發生器和常開、常閉等多種狀態,既可利用外部脈沖對矢量網絡分析儀的源進行調制,也可以使其處于連續波狀態,通過觸發同步模式進行測量,為T/R組件、天線收發模塊等測試提供有力支撐。


          混頻器/變頻器標量測量分析

          提供完善的混頻器/變頻器特性設置,支持雙階本振、外部本振源輸入;支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類型;通過簡單設置可自動完成復雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算;支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設置等。


          混頻器/變頻器矢量測量分析

          提供完整的混頻器/變頻器幅度響應、相位及時延響應測量能力。校準過程中引入雙混頻器實現參考通路變頻與校準通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測件的變頻特性一致,且校準混頻器要求變頻特性互易。


          單次連接即可完成混頻器/變頻器復數特性測量,幅度和相位測量精度高。


          增益壓縮測量

          增益壓縮測量功能能夠通過一次連接、一次校準完成有源器件在工作頻帶內的線性增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數測量。


          增益壓縮掃描三維圖繪制

          提供三維視圖功能,更好地展示被測件在激勵狀態下的工作性能,另外還可以展示頻率切面和功率切面,可以直觀展現被測件在每個頻率點和每個功率點的特性。


          噪聲系數測量

          一次連接,可同時測試S參數、噪聲系數、噪聲參數、增益壓縮和變頻增益等多種參數?;诶湓丛肼曄禂禍y試方法,可進行的噪聲系數和噪聲參數測試。通過構建先進的噪聲相關矩陣模型,結合矢量網絡分析儀精密的S參數校準,適用于較小噪聲系數被測件的測試。測量動態范圍更大可達55dB,適用于較大增益被測件的測試。


          頻譜測量分析

          矢量網絡分析儀的每個端口都可以完成被測件的輸入譜和輸出譜的測量,可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測件雜散譜和諧波的狀態。


          針對有源器件的測試,頻譜測量功能可提供更多的測量參數,單臺儀器通過單次連接可實現常規的S參數測試、雜散和諧波的定位測量;完備的比值和測量誤差修正技術可提供更準確的測量結果。


          信號完整性測量分析

          具備強大的信號完整性測量分析能力,可提供微米級的空間分辨率。單一視圖同時完成時域和頻域測試分析,可以精準測試傳輸線上阻抗特性的變化情況;便捷的近端與遠端串擾測試,用于測試多條傳輸線之間相互影響的程度。


          時域分析選件具備基于網絡參數的虛擬眼圖生成及分析功能。根據不同的高速數字通信標準,時域分析選件可以使用預先定義好的眼圖模板進行高效率Pass/Fail測試。


          總諧波失真(THD)測量分析

          寬頻帶測試,可用于真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數的分析,簡化差分器件的諧波性能測試復雜度。


          單次校準同時完成多通道的誤差修正,設置和測量參數的編輯可通過XML文件的方式進行,一鍵實現參數導入。


          自動夾具移除

          對于非標準接頭器件測試,如封裝微波器件、在片器件等,此類器件無法與矢量網絡分析儀直接相連。通常使用夾具將被測件連接到矢量網絡分析儀上,但同時夾具也引入了測量誤差。自動夾具移除功能可以進行夾具參數的提取、存儲以及夾具去嵌入,終獲得被測件的真實參數。


          的用戶體驗

          界面簡潔直觀,便于操作,提高測試效率


          外設接口豐富,靈活實用

          1-10MHz外參考輸入/輸出接口

          2-110V/220V自適應電源輸入

          3-可拆卸CPU模塊,配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口

          4-激勵輸出、本振輸出等接口,提供靈活的測量配置,提供靈活的測量配置

          5-外中頻輸入接口,脈沖輸入輸出接口

          6-偏置T配置輸入接口

          7-自動測試接口,觸發輸入/輸出接口,噪聲源電源接口


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